McSEIS-SXW高分辨率面波仪

McSEIS-SXW高分辨率面波仪

技术参数：

通道数：24＋AUX1

输入阻抗：20KΩ∥0.05μF

增益：12、30和48dB

频率范围：2 - 4600Hz

A/D分辨率：24位

采样率：33.3、50、100、200、500、1000、2000、4000μs

预触发：0, 128字

存储长度：1K、2K、4K、8K、16K

触发输入：锤击开关，地震检波器

触发电平：100 - 1000mV，步幅100mV

CPU：ULV In Celeron处理器(400MHz)

操作系统：Window XP专业版

系统内存：256MB

显示：10.4英寸 TFT 彩色 LCD 800x600

硬盘：80GB

McSEIS-SXW高分辨率面波仪

数据格式：SEG-2

接口：USB2.0×3，键盘

电源要求：12VDC（10.5～13.5V），2.0A（标准），4.0A（较大）

操作温度：0～45℃

尺寸：330（W）x280（D）x220（H）mm

重量：8kg

功能：多道瞬态面波勘探

特点：高分辨率、仪器

详细介绍

McSEIS-SXW采用12个或24个地震检波器接收由人工震源激发（如大锤）的表面波，可以很方便地对地层进行勘探，而不必采用大型震源（如炸yao、振荡器等）。使用4.5Hz地震检波器，有效勘探深度约20m。